高周波における磁気ヘッドの評価解析技術
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概要
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Observation of the recording gap field in the high-frequency region is important for developing high-frequency operable recording head. We used Kerr microscopy and MFM for high-frequency observation of recording head. The apparatuses are easy to operate but the data are not quantitative. However, complementary use of these methods provides important information for developing recording heads.
- 社団法人日本磁気学会の論文
- 1999-04-15
著者
-
寺田 尚司
ソニー(株)中央研究所
-
菅原 伸浩
ソニー(株)中央研究所
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寺田 尚司
ソニー(株)
-
大森 広之
ソニー(株)コアテクノロジー&ネットワークカンパニー コアテクノロジー開発本部
-
大森 広之
ソニー株式会社
-
山元 哲也
ソニー(株)情報技術研究所
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菅原 伸浩
ソニー(株)
-
大森 広之
ソニー(株)
-
大森 広之
ソニー(株)中央研究所
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