特集「VLSIのテスト容易化設計」の編集にあたって
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1989-12-15
著者
関連論文
- 特集「VLSIのテスト容易化設計」の編集にあたって
- 4. 論理装置の故障診断 4.2 テスト生成と故障シミュレーション (論理装置CADの最近の動向)
- 組合せ回路における分岐指向型検査入力生成法
- 変数縮退に関して閉じた論理関数族と故障検査への応用
- 自己検査を有するシステム診断モデル
- A-26 集団学習応答曲線の動的分析
- 自己診断システムにおける診断能力の改善法
- 確率的診断可能なシステムの構成について
- カスタムLSIのテスト技法 (計測と制御のためのカスタムLSI)
- 組合せ論理回路における故障検査問題の計算複雑度について