ステップスキャニングによるX線応力測定について
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概要
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The automatically step-scanning diffractometer, which is provided with an W-ray integrating counting rate computer, a digital printer and counter step-scanner, is described in this paper. Most of the industrial materials for the X-ray stress measurement weaken the peak intensity. For instance, the heat treated materials broaden peak-profiles, and some of the machine parts, which have curved surfaces, limit their X-ray irradiation area to satisfy the X-ray focusing condition. In these cases, it is preferable to integrate the weak diffracted X-rays. On the other hand, it takes much more time to record one peak position is determined by Koinstinen's method, it need not record the whole peak profile. Moreover, good accuracy can be gained. A few results of the stress measurement of heated-treated materials, restricting the X-ray irradiation area to 2×2mm^2, are also presente d.
- 社団法人日本材料学会の論文
- 1968-12-15
著者
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