セラミックスコーティング膜の欠陥率評価
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概要
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The evaluation method of defect rate was examined to determine the defect rate in ceramics film (Cr_2O_3 + SiO_2 + Al_2O_3) coated on zirconium alloy by the chemical densification coating method. Chronoamperometry and chemical impedance methods were selected for quantitative determination of defect rate. It is concluded that the Chronoamperometry method determines the defect by the rate of change in the minute electrolysis current in potential step electrolysis, and that the chemical impedance method established good correlation between defect rate and reciprocal maximum electrical resistance over a wide range of frequency (100 mHz-10 kHz) .
- 社団法人日本セラミックス協会の論文
- 1989-11-01
著者
-
蓼沼 克嘉
(株)化研
-
蓼沼 克嘉
株式会社化研
-
河村 弘
日本原子力研究開発機構 照射試験炉センター
-
蓼沼 克嘉
化研
-
河村 弘
原研大洗研
-
河村 弘
日本原子力研究開発機構
-
宮島 生欣
トーカロ株式会社
-
内田 勝秀
(株)化研
-
宮島 生欣
トーカロ(株)
-
中田 宏勝
日本原子力研究所大洗研究所
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