2p-X-7 Er薄膜の磁性への界面ストレスの影響
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1998-03-10
著者
-
勝又 紘一
理研播磨
-
田中 良和
理研・播磨研
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勝又 紘一
理研・播磨研
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勝又 紘一
理研
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田中 良和
理研播磨研
-
田中 良和
理研 SPring-8
-
山崎 展樹
理研
-
山崎 展樹
理研基幹研
-
田中 良和
理研
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