29p-RC-3 異なる温度で再照射したCzSiの電子線照射誘起二次欠陥の挙動

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概要

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• 1986-09-12

著者

• 藤田 英一

  阪大基礎工

• 大嶋 隆一郎

  阪大基礎工

• 藤田 英一

  大阪大学 基礎工学科

• 大嶋 隆一郎

  大阪大学基礎工学部

• 華 国春

  阪大基礎工

• 華 国春

  阪大大学院

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