電子線ホログラフィによる新しい微分干渉計測法
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1996-09-13
著者
関連論文
- 高精度位相シフト電子線ホログラフィ
- 28aXC-8 磁性金属多層膜(Co/Cu)の電子線ホログラフィによる断面観察
- 磁性金属多層膜(Co/Cu)の電子線ホログラフィ
- 高精度位相シフト電子線ホログラフィのシミュレーション
- 電子線バイプリズムによるフレネル回折の影響とその補正
- 27pYA-7 電子線バイプリズムによるフレネル回折の影響とその補正
- 27pYA-6 交流電圧印可による電子線微分干渉法の検討
- 電子線ホログラフィによる微分顕微鏡法
- ローレンツ電子顕微鏡法によるFe微粒子の観察
- 位相シフト電子綿ホログラフィによる高精度位相計測法の開発と応用
- 28p-J-1 ローレンツ電子顕微鏡法によるFe微粒子の観察II
- 28p-XJ-2 磁性超微粒子のローレンツ電子顕微鏡像
- 28p-XJ-1 電子線ホログラフィによる微分顕微鏡法III
- 25p-K-15 位相シフト電子線ホログラフィの高精度化
- 30p-YC-8 電子線ホログラフィーによる微分顕微鏡法II
- 5p-X-4 電子線ホログラフィによる微分顕微鏡法
- 28p-A-2 高分解能電子線ホログラフィにおける収差補正
- ZrSiO_4の高分解能電子線ホログラフィ
- 30p-YM-11 電子線ホログラフィによる磁性体微粒子の磁区状態決定
- 30p-YM-10 電子線ホログラフィによる表面のプロファイル像II
- 12p-DL-10 結晶構造像の電子線ホログラフィII
- 29a-ZB-8 結晶構造像の電子線ホログラフィ
- 12p-DL-9 実時間電子線ホログラフィによる磁壁の動的観察
- 31p-PSB-38 電子線ホログラフィによるバリウムフェライト粒子磁区状態の観察
- 4波干渉位相計測法
- フレネルインライン電子線ホログラフィーにおける画質改善
- 0.1nmあるいはそれ以下の分解能で何が期待できるか
- 高分解能電子線ホログラフィ-のシミュレ-ション
- 高輝度電子放射材料の研究--遷移金属窒化物の作製および電子放射特性
- 27p-D-6 MgO微粒子の電顕観察におけるチャージアップ効果
- 29a-L-11 X線定量分析における回折効果
- 30a-M-2 EDXによる薄膜試料の定量分析
- 高分解能電子顕微鏡用オンライン画像処理システム
- 31p-N-7 ジルコンの放射線損傷の電子顕微鏡像
- 2a GK-3 管状結晶の高分解能電子顕微鏡像
- 13pTJ-13 ローレンツ顕微鏡法を用いた位相情報の抽出(電子線, 領域 10)
- ローレンツ顕微鏡法による強磁性薄膜の磁化過程の観察
- 電子線ホログラフィの高分解能化・高精度化
- 磁性グラニュラー膜のローレンツ顕微鏡観察
- 電子顕微鏡による微細磁気構造の観察
- 28pXC-5 新しい電子線ホログラフィとその応用
- 3p-N-1 MgO表面と電子線との相互作用
- ホログラフィによる高分解能化 (日本電子顕微鏡学会第43回シンポジウム論文集--21世紀へ向けての新技術の展開--平成10年10月28日(水)〜30日(金),千葉大学けやき会館〔含 著者名索引〕) -- (最先端TEM評価技術の動向)
- 電子線ホログラフィによる新しい微分干渉計測法