24p-G-8 軟X線用PSPC(1keV)の開発
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
-
24p-P-10 高速重イオンとヘリウムの衝突におけるバイナリーピークの電荷依存性
-
30p-YB-14 C_クラスター解離の入射粒子依存
-
3p-B-9 重イオン衝突によるC_クラスターの解離
-
4p-KC-5 N=50核の(d,t)反応
-
8p-B-8 Mo同位元素による陽子の非弾性散乱
-
^Moによる陽子の弾性,非弾性散乱 : 低エネルギー原子核実験
-
^Al(^3He, d)^Si反応 : 低エネルギー原子核実験
-
^Zr(p,p')反応 : 低エネルギー原子核実験
-
4p-WA-2 ビームフォイル分光(Alスペクトルの解析と準位の寿命)
-
3p-KP-14 Ar^+Ar衝突におけるAr L-MMオージェ電子の測定
-
3p-KP-12 固体標的中を通過するAr-イオンのKβX線スペクトル
-
14a-G-3 固体標的原子と衝突したArイオンの多重内殻電離
-
14a-G-2 〜0.2MeV/amu重イオン衝撃におけるKrMNNオージェスペクトル
-
30a-J-12 Ar^+Ar衝突におけるAr-LMMオージェ電子スペクトル
-
3a-SA-5 多重内殻電離X線の角度分布
-
1a-SA-12 Ar^+Ar 衝突におけるAr-LMM オージェスペクトル
-
2a-N-2 Ar^+Ar(n=2,3,4)衝突におけるAr LMMオージェスペクトル
-
2a-N-1 重イオン衝突による二次イオン生成
-
3p-NU-5 広エネルギー領域同時測定用X線スペクトロメータを使った多重内殻励起X線の測定
-
28a-S-8 O^+He衝突により生成されるO^+(1s^2nln'l')の3重項状態からの放出電子スペクトル
-
28a-S-8 O^+He衝突により生成されるO^+(1s^2nln'l')の3重項状態からの放出電子スペクトル
-
31a-X-3 高エネルギー重イオンによる0°電子分光(III)
-
4p-L-5 高エネルギー重イオンによる0°電子分光(II)
-
28a-S-8 O^+He衝突により生成されるO^+(1s^2nln'l')の3重項状態からの放出電子スペクトル
-
24p-P-12 80MeV/uAr^イオンの電子捕獲過程
-
24p-P-11 80MeV/uArイオンの炭素薄膜通過後の荷電分布
-
5p-N-6 ビームフォイル分光によるTi^の寿命
-
10p-A-4 反応粒子分析用電磁石の光学的性質
-
12p-Q-8 高速重イオンによる強磁性体伝導電子の逆モット散乱
-
30p-S-11 相対理論的重イオンによる高速電子生成II
-
30a-Q-9 95MeV/uArイオンと炭素薄膜の衝突における遅延X線生成
-
19p-B-4 ^Mo(t,P)^Mo反応
-
5a-X-11 希ガス比例蛍光X線画像検出器の開発
-
30p-S-10 FOIL TARGET ELEMENT AND INCIDENT ENERGY DEPENDENCE OF MULTIPLE INNER-SHELL VACANCY PRODUCTION OF PROJECTILE Ar IONS
-
30p-S-14 放射性電子捕獲断面積 : 26 MeV/u Ar^C
-
30p-S-13 26 MeV/u Arイオンの固体通過後の荷電分布
-
3a-SA-3 110MeV NeビームによるX線の標的気体圧依存性
-
2a-P-4 広エネルギー領域同時測定用X線スペクトロメータ
-
2a-S-1 110MeV-Neイオンと気体の衝突によるX線
-
31p-YK-11 高励起多価アルゴンイオンのビームフォイル分光
-
31p-YK-1 理研 ECR イオン源を用いた低速多価イオン衝突実験
-
キセノン1価イオンの4d光電離
-
Xe^ Xe^:の4d光電離
-
27p-YA-5 Xe^-イオンの4d励起状態の解析
-
29a-YR-2 Eu^+イオンの5p光励起による電離
-
29a-YR-1 Xe^+イオンの4d励起領域における光電離過程
-
4a-L-10 理研EBIS型イオン源の特性
-
トロイダル型電子エルネギー分析器による放出電子の角度分布の測定
-
31p-F-7 Ne^からの放出電子スペクトルの測定
-
26a-P-4 C^, B^-He衝突により生成する2電子励起状態(2lnl')の放出電子スペクトル
-
29a-YD-8 イオン照射した高温超伝導体の欠陥生成における速度効果
-
31a-M-9 交差した円柱状欠陥を導入したLa_Sr_xCuO_4の磁束ピン止めと磁束クリープ
-
重イオン照射したLa_Sr_CuO_4の磁気的性質
-
29a-YR-3 Sr^+イオンの3d励起状態の解析
-
4p-L-8 Eu^+の光電離過程
-
4a-L-13 バイナリー電子ピークエネルギーの入射イオン価数依存性 II
-
4a-L-12 8MeV O^-He衝突の反跳イオン運動量分析
-
4a-ZG-1 ^C^, ^B^He衝突における二電子捕獲励起状態2lnl′からの放出電子の測定
-
13p-DB-10 バイナリー電子ピークエネルギーの入射イオン価数依存性
-
11a-A-11 55MeV陽子によるSd-shell核の励起 II
-
2p-Q-6 sd-Shell核による55MeV陽子の散乱
-
^Sn及び^Snによる15MeV陽子の非弾性散乱 : 原子核実験
-
Zr^, Zr^による14MeV陽子の非弾性散乱 : 原子核実験
-
γ^による15MeV陽子の非弾性散乱 : 原子核実験
-
Cd^, Cd^, Cd^による15MeV Protonによる非弾性散乱 : 原子核実験
-
中重核による陽子の弾性及び非弾性散乱(1) : 原子核実験(低エネルギー)
-
5p-TB-6 Al多価イオンのビームフォイルスペクトルの解析
-
3p-KL-3 ビームホイル分光による分光器の分光感度測定
-
3a-SA-4 〜30 MeV Arイオン・固体薄膜衝突におけるArの多重内殻電離X線
-
27p-C-6 5, 6, 7 MeV/amu α粒子, N^イオンによるCaからNiのK殻電離
-
30p-S-13 ビームフォイル分光によるNe様Crイオンの寿命
-
4p-Q-8 ^Cd,^Cdによる55MeV陽子の非弾性散乱
-
12p-Q-7 酸化物超伝導物質La_Sr_CuO_4の高エネルギー重イオン照射
-
30a-Q-12 放射光により生成したXe多価イオンの蓄積
-
30a-Q-10 31MeVSi^-Ar衝突における荷電変換とKX線放出確率の測定
-
27a-Q-5 Kingdon型イオントラップの特性III
-
2a-N-1 Kingdon型イオントラップの特性II
-
31p-S-8 Kingdon型イオントラップの特性
-
3a-G-2 X線用高気圧(〜10気圧)PSPCの開発
-
30a-X-3 放射線検出器の新しい2次元位置読み出し法 : 並列容量結合電荷分割法
-
4a-ZG-2 10〜30MeVのNe-Ne衝突によるKX線放出確率の散乱角・方位角依存性
-
30p-F-1 ビームフォイル分光によるNe様Feの2p^53pおよび2p^53d準位の寿命
-
4p-W-12 重イオン衝撃によるYのKおよびLX線
-
6p-T-6 重イオン衝撃によるTiKX線
-
12p-R-1 ^Poの崩壊に伴うX線
-
24a-E-4 重イオン,α粒子による内殻電子励起(II)
-
24a-E-2 重イオン,α粒子による内殻電子励起(I)
-
12a-DB-13 Ba^+イオンの4d殻励起による光電離
-
28a-F-2 シンクロトロ放射光によるSr^+イオンの3d殻電離
-
28a-F-1 Ba^+イオンの4d殻励起による光電離II
-
31p-F-6 O^+Ne、Ar、N_2衝突により生成されるO^からの放出電子スペクトルの測定
-
7p-T-11 84 MeV Nイオン衝撃によるAl, Ti, Fe, NiのKα, Kβ及びsatellite, hypersatelliteX線
-
7p-T-10 オンライン・ブラッグスペクトロメータ
-
13p-DB-11 42MeV Arイオン衝突による標的Ar原子の多重電離
-
13p-DB-9 Tiイオンにおける放射性電子再配置過程の研究
-
12a-DB-12 放射光実験利用のためのEBISの開発
-
14a-DL-8 希ガス比例蛍光現象を利用した2次元X線画像検出器の試作
-
4p-DQ-4 数MeV/a.m.u.のC,He iconの阻止能とstranggling
-
31a-AB-4 数Mev/amuのC, He イオンの阻止能の測定 (III)
-
9p-T-2 5MeV/amuのC,Heのイオンの阻止能の測定(II)
もっと見る
閉じる
スポンサーリンク