P-102 ハイスループット遺伝毒性スクリーニング試験法の開発
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概要
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- 日本環境変異原学会の論文
- 2000-10-24
著者
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森田 健
国立医薬品食品衛生研究所
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森田 健
グラクソ・スミスクライン(株)
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森田 健
国立衛研
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森田 健
グラクソ・ウエルカム(株)筑波研究所
-
富田 晃代
グラクソ・ウエルカム(株)筑波研究所
-
森田 健
国立衛生研究所安全情報部
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