XPSによるジルカロイ自然酸化膜中におけるSnの化学状態の研究
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概要
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The depth profile of the chemical state of tin in the natural oxide layer formed on zircaloy-4 has been investigated by angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). It was found that the metallic tin exists in the natural oxide layer.
- 九州大学の論文
- 2000-12-30
著者
-
杉崎 昌和
九州大学大学院総理工
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杉崎 昌和
九州大学大学院総合理工学研究科
-
Sosiati Sudarminto
九州大学大学院総合理工学研究科
-
坂本 寛
九大 大学院
-
土内 義浩
原子燃料工業(株)
-
坂本 寛
九州大学大学院総合理工学研究科
-
土内 義浩
原子燃料工業株式会社
-
土内 義浩
原子燃料工業
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