電子顕微鏡法による固体の相変態現象に関する研究
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2011-03-30
著者
関連論文
- 遍歴電子メタ磁性体La(Fe_Si_)_の1次磁気相転移の動的観察
- TEM用二探針ピエゾ駆動ホルダを利用した構造・電磁場・伝導性のマルチ解析 (電顕内でのその場ナノ物性計測)
- 2探針ピエゾ駆動ホルダーの開発とTEMによる多元的材料評価の試み
- 二探針ピエゾ駆動ホルダーを用いた導電性接着剤中の金属微粒子の電気的評価
- 20pRB-3 電子線ホログラフィによる格子欠陥近傍の磁化分布解析(20pRB 領域10シンポジウム:TEMによる最先端局所構造解析,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- TEM用二探針ピエゾ駆動ホルダの開発
- 透過電子顕微鏡による先端材料評価 (特集 複雑な物質・材料解析への新たなアプローチ)
- 透過電子顕微鏡を用いた強磁性形状記憶合金のドメイン解析 (特集 磁場誘起形巨大歪み材料の新展開と磁気応用)
- Cu-Mn-Ga系強磁性合金の相変態と磁気特性
- 蒸着テープの微細構造と成長機構 : Co c軸分布集中のメカニズム(記録媒体及び一般)
- 蒸着テープのCoO下地層と磁性層界面の構造(磁気記録)
- 蒸着テープのCoO下地層と磁性層界面の構造
- 電子線回折によるCo-CoO蒸着テープの結晶磁気異方性の評価
- FePtナノ微粒子の規則化とサイズ効果
- 2探針ピエゾ駆動ホルダーを活用した局所領域の精密抵抗測定
- 電子線ホログラフィーを用いたNi_Fe_Ga_強磁性形状記憶合金の磁区構造評価
- 電子線ホログラフィーを利用した膜厚計測
- Transmission Electron Microscopy Study on Microstructure of Ag-Based Conductive Adhesives
- 企画にあたって
- 透過電子顕微鏡と微小プローブによる高密度圧粉磁心 (HDMC) の微細構造評価
- Recent Advances in Domain Analysis
- 電子線ホログラフィーによる局所磁化分布のイメージング
- In Situ TEM Observation of Thermally-Induced First-Order Magnetic Transition in Itinerant-Electeon Metamagnetic La(FexSi1-x)13 Compounds
- マンガン酸化物La_Sr_MnO_3の磁気微細構造の温度・磁場依存性
- Co-CoO斜方蒸着テープの微細構造
- ナノエリア解析システムによるメカノケミカル処理を施した廃蛍光材の構造評価
- 電子線ホログラフィーによるSm-Co永久磁石の磁化分布の観察
- 集束イオンビーム法と電子線ホログラフィーを用いたFe-Co-Cu-Nb-Si-Bナノ結晶磁性材料の磁区構造評価
- 透過電子顕微鏡を用いた構造・電磁場・伝導性の多元的解析 (特集 地域と世界に貢献する東北大学多元物質科学研究所)
- 透過電子顕微鏡を用いた局所領域の磁性評価
- 透過電子顕微鏡を用いた局所領域の磁性評価
- 電子線ホログラフィーとローレンツ顕微鏡法によるFePt (001) 薄膜の磁区構造観察
- 電子顕微鏡を用いた機能性材料の磁気微細構造解析
- 電子線ホログラフィーによる磁性材料の研究
- 電子顕微鏡を用いた機能性材料の磁気微細構造解析
- Formation Process and Properties of Nano-structured Materials
- 企画にあたって
- 電子顕微鏡法による固体の相変態現象に関する研究