高耐熱コンタクトプローブを用いたSiCショットキーバリアダイオードの電流-電圧特性評価用試験装置開発
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概要
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- 2012-01-27
著者
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匹田 政幸
九工大
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匹田 政幸
九州工業大学
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大村 一郎
東芝セミコンダクター社
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大村 一郎
九州工業大学
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小迫 雅裕
九州工業大学
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小迫 雅裕
九州工大
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河野 大樹
九州工業大学
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LEBEY Thierry
ポールサバティエ大学
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