A Self-Test of Dynamically Reconfigurable Processors with Test Frames
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概要
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This paper proposes a self-test method of coarse grain dynamically reconfigurable processors (DRPs) without hardware overhead. In the method, processor elements (PEs) compose a test frame, which consists of test pattern generators (TPGs), processor elements under test (PEUTs) and response analyzers (RAs), while testing themselves one another by changing test frames appropriately. We design several test frames with different structures, and discuss the relationship of the structures to the numbers of contexts and test frames for testing all the functions of PEs. A case study shows that there exists an optimal test frame which minimizes the test application time under a constraint.
- 電子情報通信学会(IEICE)の論文
- 2008-03-01
著者
-
FUJII Takashi
Graduate School of Engineering, Hokkaido University
-
INOUE Tomoo
Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology
-
Ichihara Hideyuki
Graduate School Of Information Sciences Hiroshima City University
-
Inoue Tomoo
Graduate School Of Information Sciences Hiroshima City University
-
Inoue Tomoo
Graduate School Of Information Science Nara Institute Of Science And Technology
-
Fujii Takashi
Graduate School Of Information Sciences Hiroshima City University
-
Inoue Tomoo
Graduate School Of Information Science Hiroshima City University
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