電子線トモグラフィーによる球形シリカメソ多孔体の3D構造評価
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概要
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- 2007-12-01
著者
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寺崎 治
ストックホルム大学アレニウス研究所構造化学部門
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古河 弘光
日本電子システムテクノロジー株式会社 第1技術部
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清水 美代子
日本電子システムテクノロジー株式会社 第1技術部
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寺崎 治
ストックホルム大学
-
阪本 康弘
ストックホルム大学アレニウス研究所構造化学部門
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阪本 康弘
大阪府立大学ナノ科学材料研究センター
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清水 美代子
日本電子システムテクノロジー株式会社
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古河 弘光
日本電子システムテクノロジー(株)技術本部
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