FIB/STEMシステムによる材料の三次元構造および組成分布解析技術

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 日本セラミックス協会の論文
• 2005-11-01

著者

• 矢口 紀恵

  (株)日立サイエンスシステムズ

• 矢口 紀恵

  (株)日立ハイテクノロジーズ ナノテクノロジー製品事業部那珂事業所 那珂アプリケーションセンタ 先端解析グループ

関連論文

• Ni基単結晶超合金高温クリープ試料のFIB/TEM評価
• ナノ構造GaNの高さ・密度制御とその反射防止・透過向上特性(窒化物及び混晶半導体デバイス)
• ナノ構造GaNの高さ・密度制御とその反射防止・透過向上特性(窒化物及び混晶半導体デバイス)
• ナノ構造GaNの高さ・密度制御とその反射防止・透過向上特性(窒化物及び混晶半導体デバイス)
• ナノ構造GaNの高さ・密度制御とその反射防止・透過向上特性
• ナノ構造材料解析のための前処理および観察技術
• FIBを用いたナノテク材料のピンポイント解析
• ナノアートの誕生
• Fe合金溶射皮膜の電子顕微鏡試料作製とその断面観察
• FIBマイクロサンプリングによる薄膜試料作製
• 環境制御型透過電子顕微鏡の開発とその応用
• FIB/STEMシステムによる材料の三次元構造および組成分布解析技術
• 環境制御型透過電子顕微鏡の開発とその応用

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク