電波吸収体の反射量測定における集束ビーム測定と平面波測定の違いの理論的検討(電波吸収体・電磁遮蔽関連)
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概要
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マイクロ波・ミリ波帯における誘電体の測定に、集束ビームによる方法(以下、集束ビーム法)が提案され用いられている。同方法は、反射特性の測定にも用いることができ、現在、IEC SC46Fの国内委員会であるWG1において、ミリ波帯における電波吸収体の反射特性を測定する方法として国際標準化が検討されている3つの方法のうちの1つである。集束ビーム法は多くの利点をもつ測定法であるが、集束ビーム法により測定される電波吸収体の反射量は、平面波測定による反射量と異なることが知られている。このことを計算で示すために、集束ビームの波数広がりを考慮して集束ビームを平面波の重ね合わせで表し、電波吸収体の反射量測定に対応する数値計算を行った。まず、ビーム開き角とスポットサイズの関係を計算で示した。次に、λ/4型電波吸収体を仮定して反射量を計算した結果、ビーム開き角の大きい測定システムではより大きい違いが生じることを示した。また、垂直入射測定の場合でも、整合のずれや、整合周波数の高周波側へのシフトが生じることを示した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-05-19
著者
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