PCBグランドの分離によるEMIへの影響 : 基本モデルの解析(1)-Longitudinal Slotモデル

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概要

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• 多層構造のプリント配線板における信号線直下のグランド層の開口の電磁界放射への影響を調べるために、マイクロストリップを用いてストリップ下のグランド面にスロットを設けた構造をMOM型のEMIシミュレータを用いて解析した。ストリップに対して平行に配置されたスロットについて、与えられる放射値の、スロットの位置および大きさに対する依存性について調べた。また、スロットをストリップに対して直交して配置する場合に得られる放射値との比較を行い、これら二つの基本的なスロットの関係を例示した。

• 1997-07-17

著者

• 伊神 眞一

  日本アイ・ビー・エム

• 櫻井 秋久

  日本アイ・ビー・エム株式会社emc技術開発

• 櫻井 秋久

  日本アイ・ビー・エム 技術推進 Emc技術開発

• 藤尾 昇平

  日本アイ・ビー・エム

• 櫻井 秋久

  日本アイ・ビー・エム

• 椛山 英樹

  日本アイ・ビー・エム, 技術推進, EMC技術開発

• 浅野 武

  日本アイ・ビー・エム

• 椛山 英樹

  日本アイ・ビー・エム 技術推進 Emc技術開発

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