単一モード半導体レーザの波面補正と精密集光
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概要
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For the purpose to use a laser diode (LD) for direct material processing, the wave-front of a single-mode LD have been measured and corrected. The wave-front of the output beam of 0.1 W LD at 940 nm wavelength through a newly designed collimator lens was measured, and the wave-front error of about 1λ was corrected by the Laser Ablative Shaping (LAS) method. After 2 times of wave-front correction, the residual wave-front error was reduced to better than λ/4. The output beam was focused on to the plastic plates to make micro-marking for production tracing.
- 2005-02-01
著者
-
實野 孝久
大阪大学レーザーエネルギー学研究センター
-
実野 孝久
阪大レーザー研
-
実野 貴久
阪大レーザー研
-
徳村 啓雨
大阪大学レーザーエネルギー学研究センター
-
徳村 啓雨
ナルックス(株)
-
風間 克也
株式会社ワイ・イー・データ
-
實野 孝久
大阪大学レーザー核融合研究センター
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