集束イオンビーム(FIB)装置による部位指定TEM用試料作製
スポンサーリンク
概要
著者
-
富田 雅人
NTT
-
飯塚 俊生
Nttアドバンステクノロジ(株)
-
富田 雅人
NTT生活環境研究所
-
富田 雅人
Ntt基礎技術総合研究所
-
富田 雅人
Ntt 生活環境研
-
富田 雅人
Ntt基礎総合技術研究所
関連論文
- P01 二酸化窒素濃度モニタリングシステムの開発(II)
- 均一細孔と規則構造を有するメソポーラス材料のSurface Photo Voltage(SPV)型NO,NO_2ガスセンサーへの応用
- 集束イオンビーム(FIB)装置による部位指定TEM用試料作製
- 3L07 サブμm径SPMの分析TEMによる評価
- 28a-T-7 Si(111)表面上Ge固相エピタキシに対するサーファクタントの効果II
- 31p-S-4 Si(111)表面のGe固相エピタキシャル成長に対するsurfactantの効果
- 2a GK-4 各種結晶内原子像を無収差で撮影する方法の実現
- ゲート酸化膜のウィークスポットを検出する銅析出法
- 透過電顕中電子線加熱による結晶成長その場観察
- 2p-D-3 電顕内でのカリウム-ナノチューブインターカレーション化合物の作製
- 2a-E-1 コンピュータによる微小制限視野回析法の格子欠陥解析への応用
- Co-C系グラニュラー磁性薄膜
- Co-C系グラニュラー磁性薄膜
- ナノ白金微粒子分散炭素薄膜電極のバイオセンサとしての特性
- 銅ナノ微粒子分散炭素薄膜の作製と糖類検出への応用
- 白金ナノ微粒子分散炭素薄膜の作製と電気化学センサへの応用
- 29p-A-4 単位胞内微少変位原子の電子顕微鏡法による観察
- 14a-T-5 結晶格子像解析へのディジタル処理の応用
- 29p-L-11 格子欠陥格子像のon line FTの高解像化
- 2p-U-2 高速画像計測処理装置の開発と高分解能電子顕微鏡への応用
- 超高分解能電子顕微鏡の利用技術と新展開 (〔特集〕ナノエレクトロニクス材料の高度分析技術)
- 7a-C-1 a-Ge, C_混合膜の構造解析
- 29a-G-13 a-Ge, C_混合膜の作成と評価
- ケンブリッジ大学の滞在を終えて
- リモート電子顕微鏡と教育用ツールとしての検討