Ta/Ni_<79>Fe_<21>/Ta薄膜における誘導磁気異方性の膜厚依存性
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概要
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- 1999-10-01
著者
-
村岡 裕明
東北大学電気通信研究所
-
島津 武仁
東北大学電気通信研究所
-
中村 慶久
東北大学電気通信研究所
-
渡辺 功
東北大学電気通信研究所
-
片田 裕之
東北大通研:日立
-
村岡 裕明
東北大
-
杉田 愃
東北大
-
中村 慶久
東北大
-
杉田 愃
東北工業大学
-
片田 裕之
東北大学電気通信研究所
-
島津 武仁
東北大
-
渡辺 功
東北大学 電気通信研究所
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