金属系多層膜を用いた電子の減衰長の測定

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概要

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• 1995-08-10

著者

• 茂木 カデナ

  NTTアドバンステクノロジ(株)厚木分析センタ

• 鈴木 峰晴

  NTT境界領域研究所

• 鈴木 峰晴

  Nttアドバンステクノロジ(株) 材料分析センタ

• 竹中 久貴

  NTT境界領域研究所

• 竹中 久貴

  Nkk境界領域研究所

• 茂木 カデナ

  Nttアドバンステクノロジ(株) 材料分析センタ

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