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NEC機能エレクトロニクス研究所 | 論文
- 分子軌道計算にる液晶化合物の誘電率異方性の予測
- 分子軌道計算にる液晶化合物の誘電率異方性の予測
- 薄膜の機械的特性評価
- LCD[2]視野角改善,評価およびパネルテスト : 1993 SID国際シンポジウム報告 : 情報ディスプレイ
- 液晶におけるフルカラ-表示技術 (′94年版液晶デバイスのすべて) -- (LCD新技術)
- AMLCD(1)(1996SID国際シンポジウム報告)
- 1996 SID国際シンポジウム報告 : AMLCD (1)
- AMLCD(2000 SID国際シンポジウム報告)
- EID2000-34 2000 SID国際シンポジウム報告 : AMLCD
- インタビュ- 20Gビット/(インチ)2実用化目前!HDDのコンタクト方式で信頼性確保にメド--柳沢雅広氏に聞く (特集 AV・OA機器のトライボロジ-技術最新動向)
- パッシブアライメント
- 28aHF-9 SPELEEMを用いたCo/Ni細線中の電流誘起磁壁移動観察(28aHF スピントロニクス(スピンホール効果,ナノ磁性),領域3(磁性,磁気共鳴))
- 26aPS-35 Co/Ni細線における磁壁電流駆動の温度依存性II(26aPS 領域3ポスターセッション,領域3(磁性,磁気共鳴))
- パラレルビデオサーバ(PVS)の検討
- 日本語フルテキスト検索プロセッサ
- Display System Measurement, Color Facsimile (1995 SID国際シンポジウム報告)
- 1995 SID国際シンポジウム報告 : Display System Measurement, Color Facsimile
- 潤滑単分子層のキャラクタリゼ-ション (マイクロマシンとマイクロトライボロジ-) -- (マイクロトライボロジ---表面マイクロアナリシス)
- 薄膜の物理的性質評価-6-薄膜の摩擦・摩耗特性
- 高記録密度薄膜磁気ディスクのトライボロジ-