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Department Of Electronics Nagoya University | 論文
- 27aSD-7 低温でのテーパーファイバーと微小球共振器とのカップリング(27aSD 量子エレクトロニクス(若手奨励賞受賞講演・近接場量子光学),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- ファイバー結合微小球共振器を用いた固体量子位相ゲートの実現に向けて
- 23pQD-13 テーパファイバ結合微小球共振器の共鳴モードにおける光位相シフト(量子エレクトロニクス(量子光学,微小共振器),領域1,原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理)
- 21aRH-10 ファイバー結合微小球共振器における自然放出結合係数の制御(量子エレクトロニクス(高強度レーザー・コヒーレント過渡現象・微小共振器),領域1,原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理)
- 20pXK-5 Er, Al, P含有ゾルゲルガラスでコートしたテーパーファイバー結合微小球レーザーの発振特性(量子エレクトロニクス(量子光学),領域1,原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理)
- Selective Area Growth of GaN on Si Substrate Using SiO_2 Mask by Metalorganic Vapor Phase Epitaxy
- 欠陥領域を用いたランダム構造内の局在モード特性制御
- A subcutaneously injected UV-inactivated SARS coronavirus vaccine elicits systemic humoral immunity in mice
- Molecular resolution imaging of protein molecules in liquid using frequency modulation atomic force microscopy
- Self-Assembled Monolayers of Alkanethiol and Fluoroalkanethiol Investigated by Noncontact Atomic Force Microscopy
- Improvement of Coupling-Out Efficiency of Organic Light-Emitting Devices by Dot Array Structures with Organic Layer(Fabrication of Organic Nano-devices)(Recent Progress in Organic Molecular Electronics)
- Orientation Control of High-Density Polyethylene Molecular Chains Using Atomic Force Microscope
- Investigations of Local Surface Properties by SNOM Combined with KFM Using a PZT Cantilever(Special Issue on Near-Field Optics and Its Applications)
- Fabrication of Nanometer-Scale Pattern Using Current-Controlled Scanning Probe Lithography
- Experimental Study on Energy Dissipation Induced by Displacement Current in Non-contact Aomic Force Microscopy Imaging of Molecular Thin Films
- Molecular Ferroelectricity of Vinylidene Fluoride Oligomer Investigated by Atomic Force Microscopy
- Structures and Ferroelectric Natures of Epitaxially Grown Vinylidene Fluoride Oligomer Thin Films
- Nanometer-Scale Characterization of Ferroelectric Polymer Thin Films by Variable-Temperature Atomic Force Microscopy
- Structures and Electrical Properties of Fullerene Thin Films on Si(111)-7×7 Surface Investigated by Noncontact Atomic Force Microscopy
- Investigation of Nonswitching Regions in Ferroelectric Thin Films Using Scanning Force Microscopy
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