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Department Of Electronic Engineering Faculty Of Engineering Osaka University | 論文
- 20pHS-12 Ordered-Pb(In_Nb_)O_3のX線非弾性散乱実験(20pHS 誘電体(リラクサー),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- TDCを用いたオーディオ用ADコンバータの設計検討
- 19pxA-10 リラクサ-Pb(In_Nb_)O_3のフォノン観測(誘電体(リラクサー),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 自己発熱効果がナノスケールトランジスタの電気特性に与える影響(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- 20pHS-7 ブリジマン法で作製されたBi-O格子欠陥によるrandom fieldに基づくリラクサ固溶体Na_Bi_TiO_3-BaTiO_3単結晶の圧電特性(20pHS 誘電体(リラクサー),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- Time-Dependent Phenotypic and Contractile Changes of Pulmonary Artery in Chronic Hypoxia–Induced Pulmonary Hypertension
- 液中原子間力顕微鏡(AFM)の基礎と応用
- 原子間力顕微鏡のABC
- 液中AFMの高感度化と有機・バイオへの応用
- 原子間力近接場光学顕微鏡によるニア原子分解能の達成
- 原子間力顕微鏡を使った電荷の原子レベル観察
- STMおよびAFM, 原理と応用
- NANO7会議報告
- 原子間力近接場光学顕微鏡によるニア原子分解能の達成(加工・記録)(近接場科学の工学応用をめざして)
- 非接触原子間力顕微鏡による静電気力観察
- 非接触AFMの現状と将来
- 5-2 走査プローブ顕微鏡によるナノ加工と評価 : 5. ナノ加工・評価技術(ナノテクノロジーの光とエレクトロニクスへの応用)
- 走査プローブ顕微鏡による複合極限場での原子イメージング
- Atomically Resolved Imaging of Si(100)2 × 1,2 × 1:H and 1 × 1:2H Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy
- 非接触原子間力顕微鏡で半導体の何がどこまで見えるか?
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