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阪大UHVEM | 論文
- 20pHT-4 SiC多形結晶の電子照射誘起構造変化に及ぼす電子励起効果と弾き出し効果(20pHT 格子欠陥,ナノ構造(半導体),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- ナノメートルサイズのプリズマティック転位ループの一次元拡散 : TEMその場観察による研究
- 金属ガラスの構造と基礎物性(A02班)
- 半導体ナノ粒子の低エネルギー電子励起効果によるポーラス化と相分離
- 23aTG-9 C_ナノ粒子における電子励起誘起構造変化(ナノチューブ・グラフェンにおける欠陥,領域7,領域10合同講演,領域7,分子性固体・有機導体)
- 24pYF-11 GaSb, InSbの電子線照射効果(格子欠陥・ナノ構造(半導体),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 特集「顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(9)」 : -先端顕微鏡法開発がもたらす材料科学の新たな展開-企画にあたって
- 特集「電子顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(4)」特集企画にあたって
- 22aTD-8 グラファイト、ダイヤモンドの電子励起効果(格子欠陥・ナノ構造(炭素・ナノ構造),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 19aTG-8 低温で高エネルギー粒子照射したアルミニウムの積層欠陥四面体の形成
- MeV電子照射によるアルミニウム中への鉛原子の注入
- 金属ナノ粒子の酸化による中空構造体の形成
- 酸化による金属ナノ粒子の中空化
- シングルサイト光触媒を利用するPtおよびPdナノ粒子触媒の新規調製と効率的利用技術の開発
- 人に優しい医療用セラミック被覆穿刺針の開発
- ATM回線を介した超高圧電子顕微鏡による電子デバイス断面構造の遠隔観察
- MeV電子照射によるアルミニウム中への金原子の注入
- 30p-YK-13 液相より急冷したSiの点欠陥集合体の電顕観察
- Siの融解・凝固の HVTEM 観察と格子欠陥 : バルク結晶成長シンポジウムII
- 3p-M-12 Siの融解-凝固のHVEM観察と格子欠陥
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