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金沢大学理工学域 | 論文
- 走査型白色干渉顕微鏡に内蔵可能な光路差変化量のリアルタイム測定法
- 2波長スペックル干渉法を用いた変形測定
- スペックル干渉計でのモジュレーション変動下の連続大変形計測
- スペックル干渉計でのモジュレーション変動下の大変形計測
- 電子スペックル干渉法による大変形の連続計測
- 2種類の広帯域波長光源組み込み垂直走査型干渉計を用いる高精度形状計測(その2)
- スペックル干渉計での連続大変形測定
- 半導体レーザの狭域波長走査を用いたスペックル干渉計での粗面の形状計測
- 2種類の広帯域波長光源を組み込んだ垂直走査型干渉計を用いる高精度形状計測
- 連続取込みスペックル干渉画像における初期位相測定法
- 二波長スペックル干渉法による固体材料の変形測定
- 垂直走査型白色干渉法における走査速度の高速化
- LDの狭域波長走査を用いた粗面の形状計測
- ラジアルシェア干渉計を用いる粗面の形状計測
- 位相シフト量に影響されないスペックル位相の抽出法 : 粗面の連続微小変形量の高精度測定のための
- 変形後のスペックル画像を1枚だけ用いる定量的変形計測-高精度化への改良-
- 半導体レーザの波長走査を用いた粗面物体の3次元形状計測
- 位相シフトしながら連続取込みしたスペックル画像を用いる高精度位相測定
- 半導体レーザを用いた段差を持つ粗面の形状計測 : 3波長での位相測定を用いる方法
- 動的に変形している粗面のESPI法による変形量の測定