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筑波大学数理物質科学研究科 | 論文
- ベイズリスクに関する積分バッタチャリャ型不等式について(漸近的統計理論)
- 不偏推定量の分散に関するChapman-Robbins型不等式の拡散について (Statistical Experiments and Clinical Trials)
- An Extension of the Borovkov-Sakhanenko Bound for the Bayes Risk (Statistical Experiments and Clinical Trials)
- 逐次Bhattacharyya型下界の達成について (Statistical Inference and the Bioequivalence Problem)
- Asymptotic efficiency in sequential estimation (Large Deviation and Statistical Inference)
- A lower bound for the Bayes risk in the sequential case
- 統計的逐次決定法式の性質について
- 逐次推定におけるBhattacharyya型情報不等式について
- 逐次多項標本抽出における推定方式の許容性について
- The Cramer-Rao lower bound for sequential estimation in the multiparameter case(Sequential Analysis and Statistical Inference)
- Bayes sequential decision rules in the multinomial sampling(Sequential Analysis and Statistical Inference)
- On the sequential sampling plans
- Properties on relative normality, their absolute embeddings and related problems (Set Theoretic and Geometric Topology and Its Applications)
- 新規Ba-Ti-O系強誘電体BaTi_2O_5の結晶構造と物性
- 27pYA-8 粉末中性子回折法によるBaTi_2O_5の結晶構造と相転移(27pYA 誘電体,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- Ru-Mo合金を用いた金属/high-k 絶縁膜ゲートスタックの実効仕事関数制御
- ULSIプロセス・デバイス技術と計算科学の融合
- Hf系絶縁膜中の水素原子の原子レベルの挙動の理論的研究 : ホールを起源とした絶縁破壊のメカニズム(ゲート絶縁膜, 容量膜, 機能膜及びメモリ技術)
- HfO_2系high-kゲート絶縁膜信頼性劣化の物理モデル(IEDM特集(先端CMOSデバイス・プロセス技術))
- キャリア移動度評価によるシリコンナノワイヤトランジスタの電気特性解析(ゲート絶縁薄膜、容量膜、機能膜及びメモリ技術)