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横浜国立大学大学院 | 論文
- 平成17年度日本風工学会 年次研究発表会の概要
- A-5-5 IR-UWB測位システム用センサタグの開発(A-5. ワイドバンドシステム,一般セッション)
- A-5-9 IR-UWB測位システムの開発(A-5.ワイドバンドシステム,一般講演)
- センサーネットワーク用UWB測距技術の開発(移動通信ワークショップ)
- 電気接点で発生する相互変調ひずみの非接触測定(放電・EMC/一般)
- C-5-2 帯状導体で発生する相互変調ひずみのFDTD解析(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-7 FORWAD測定による受動回路相互変調ひずみの次数依存性評価(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-8 FDTD法を用いた受動回路の相互変調ひずみにおける線形抵抗の影響評価(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 導体で発生する3次相互変調ひずみのFDTD解析(放電・回路/一般)
- B-1-77 低相互変調ひずみ終端に関する一考察(B-1. アンテナ・伝播B(アンテナ一般),一般セッション)
- C-5-10 同軸コネクタ中心ピン長の相互変調ひずみ特性に対する影響評価(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
- C-5-8 FDTD法による磁性体から発生する相互変調ひずみ解析(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
- 定在波同軸管内の共振試料に対する非接触相互変調ひずみ測定法
- アンテナ近傍界を用いた電気接点の非接触PIM特性測定法
- マイクロ波定在波伝送線路を用いた高周波材料の非接触PIM特性評価
- C-5-8 マイクロ波帯相互変調ひずみを用いたビア性能評価(C-5.機構デバイス,一般講演)
- CS-5-2 金属材料で発生する相互変調ひずみの温度依存性(CS-5.光・高周波デバイスの接続技術,シンポジウム)
- CS-5-1 鉛フリーはんだ鍍金された導体材料の受動相互変調ひずみ特性(CS-5.光・高周波デバイスの接続技術,シンポジウム)
- 定在波伝送線路を用いた導体材料の相互変調ひずみ評価(圧電デバイス・材料,強誘電体材料,有機エレクトロニクス,一般)
- マイクロストリップ線路を用いた誘電体基板のPIM特性評価
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