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株式会社シンクロン | 論文
- 光学薄膜における光散乱計測方法の検討
- スピニングロータ真空計の持ち回り実験
- 斜め配向Si厚膜の作製と広開口偏光分離素子への応用
- 斜め配向Si厚膜の作製と広開口偏光分離素子への応用
- 斜め配向Si厚膜の作製と広開口偏光分離素子への応用
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- 大きな偏光分離特性を有する斜め配向柱状 Si 膜の作製
- サマリー・アブストラクト
- Radical Assisted Sputtering 法によるTa2O5 固体電解質薄膜の作製