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東京電機大学工学部応用理化学科 | 論文
- 真空遮断器バルブにおける金属粒子の拡散現象とその電極形状による影響
- 5)撮像デバイス用a-Si : H膜(〔テレビジョン電子装置研究会(第126回)画像表示研究会(第86回)〕合同)
- 撮像デバイス用a-Si : H膜
- 水素化アモルファスシリコン薄膜における電子の移動度と寿命の同時測定
- 水素化アモルファスシリコン膜における微結晶化過程
- 非分散形伝導を有するアモルファス薄膜中のキャリヤの移動度と寿命の同時測定法
- a-Si : H/a-SiO : H 界面に形成される水素に対するポテンシャル障壁の高さ測定
- 水素化アモルファスシリコン薄膜における光学的ギャップの膜厚依存性
- 2a-W-20 GD-a-Si:HとSP-a-Si:Hのプラズマ解析
- 1-メチル-2(1H)-ピリジンイミンの基底状態と励起一重項状態における分子構造とその電子的性質に対する考察
- 2-ピリドン-酢酸系の基底状態におけるケト-エノール互変異性とプロトン移動に対する密度汎関数法とIRスペクトルによる考察
- 3-メチルピラゾール-酢酸系の基底状態における水素結合体の形成とプロトン移動に対する分子軌道法と赤外スペクトルによる考察
- 2-ピリドンおよび1-メチル-2-ピリドンの最低励起一重項状態における分子構造およびその関連化合物の励起状態の性質-分子軌道法による考察-
- 2-アミノピリジン-酢酸系の励起状態における互変異性に対する分子軌道法による考察
- 2-アミノピリジン-酢酸系の基底状態における互変異性に対する分子軌道法と赤外スペクトルによる考察
- 1-メチル-2(1H)-ピリジンイミン水溶液中におけるプロトン移動についての分子軌道法による考察
- 1-メチル-2(1H)-ピリジンイミン塩酸塩および1-メチル-2-アミノピリジニウムカチオンの構造とこれらのモデルの赤外スペクトルのシュミレ-ションに対する分子軌道法による考察
- サリチルアルデヒドの電子構造と基底状態および励起状態における異性化反応の分子軌道法による考察
- 水素化アモルファスシリコン膜における水素放出特性とその膜質評価への応用
- 水素化アモルファスシリコン薄膜におけるキャリヤの移動度と寿命の同時測定