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日立ハイテクノロジーズ | 論文
- 4開口法レーザスペックル干渉計による2次元面内変位の測定 : 2次元フーリエ変換位相検出の測定精度
- 19aA09 ナノ粒子の表面酸化過程(ナノ粒子・ナノ構造(2),第35回結晶成長国内会議)
- STI用固定砥粒CMP(FX-CMP)の開発(第3報):加工均一性の検討
- STI用固定砥粒CMP(FX-CMP)の開発(第2報):気孔制御による低スクラッチ化
- 生体対応型ナノメーター膜による色素結晶の安定化と高純度化 : 微粒子II
- 熱プラズマ合成酸化チタンにおける異種金属ドーピングおよびドーパントの結晶学的存在モデル : 気相成長
- 走査透過電子顕微鏡の球面収差補正とその応用
- STEMにおけるデジタル画像
- 200kVのSE像によるバルク試料の断面観察
- HD-2000形超薄膜評価装置の開発
- 高加速STEM/SEM情報の有効活用
- HAADF-STEM像コントラスト解釈のための基礎検討
- HD-2000のプローブ径と観察および分析性能
- Ni基単結晶超合金高温クリープ試料のFIB/TEM評価
- TOF-MS法を利用した一塩基多型(SNPS)によるカンキツ品種及び雑種系統のタイピング
- FIBを用いたナノテク材料のピンポイント解析
- FIBマイクロピラー試料による三次元構造解析
- FIB-TEMシステムの金属材料への応用
- FIB試料の最近の進歩 (新手法--21世紀に向けて)
- 集束イオンビ-ム加工法で作製した材料の透過電子顕微鏡による観察 (電子・イオン技術を用いた表面観察・分析の新展開)