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名大エコトピア研 | 論文
- 18aTG-2 高エネルギー分光法による水素終端シリコン表面に作製した共役・非共役有機自己組織化単分子膜の電子構造の解明(表面界面電子物性,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 22pXB-10 HRTEM, EELS, EDX を用いた Ni/Si 界面反応への添加元素の影響とナノ構造の研究
- 23pTC-9 極薄Si酸化膜を用いたSi(001)表面上のGeナノドットの微細構造および組成の評価(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 球面収差補正高分解能TEMによるInGaAs量子ドットの局所歪状態の観察
- 22pXB-8 球面収差補正 TEM によるシリコン界面の原子直視観察
- 回折顕微法による原子配列構造の可視化 : 制限視野回折図形からのSiダンベル構造再生
- 透過電子顕微鏡を利用した光機能界面の高空間分解能その場観察
- 26aYK-11 MgB_2のB-K殼励起をともなう電子線非弾性散乱の異方性の観察(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 26aYK-8 HOLZ線のロッキングカーブプロファイルをもちいた3次元格子歪み分布解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 透過電子顕微鏡(TEM)
- 27pRE-11 収差補正STEMを用いた非晶質カーボン膜中白金原子の運動の観察(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27pRE-10 収差補正TEM像における焦点基準位置の検討(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27pRE-4 電子回折顕微法によるサブオングストローム分解能観察の可能性(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27pRE-3 収差補正収束電子プローブをもちいた菊池図形のプローブ位置依存性の観察(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27pRE-2 HOLZ線図形の多点自動解析による二次元歪みマッピング(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- イオン液体を用いた酸化チタン上のAu光電析過程の研究
- 球面収差補正高分解能電子顕微鏡のナノ材料観察への応用
- UHV in-situとC_s-corrected HRTEMによる極薄Si酸化膜上でのGeナノドットの核形成・成長,および微細構造の評価(結晶評価技術の新展開)
- 21pTG-5 Si(111)表面上に形成されたGeナノドットの表面構造の評価(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 19aXC-10 極薄Si酸化膜上でのGeナノドットの核形成・成長に関する研究(X線・粒子線(電子線),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
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