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三菱電機(株)ULSI技術開発センター | 論文
- SSTL_3インタフェースによる信号入力特性の改善
- マルチプルレジスタ方式によるシンクロナスDRAMの180MHz読みだし動作
- SOI構造に適した低電圧大容量DRAM高速回路技術
- 低オン電圧600V CSTBT
- 次世代半導体モデリングおよび Technology CAD 開発
- 半導体製造システムのシステム化技術
- 三次元形状シミュレーションアルゴリズムとその応用
- ASIC製造ラインにおける欠陥検査法に関する基礎的研究 : 第2報 : 検査方法による歩留りとクリーニング頻度の変化
- 0.15〜0.13μmDRAM混載ロジック技術 (特集 IT社会に貢献する半導体)
- 超低電力LSIを実現する薄膜BOX-SOI(SOTB)CMOS技術(SOIテクノロジ,低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
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