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アルバック・ファイ株式会社 | 論文
- 第23回表面化学基礎講座 : 表面・界面分析の基礎と応用
- (14) 最近の表面分析法と応用例(主題 : 素材・材料プロセスに係わる物性と評価)(素材工学研究所第 6 回研究懇談会)(素材工学研究会記事)
- 表面分析装置と超高真空技術
- 表面分析法とその装置 (フォーラム「表面改質技術の現状とその展開」)
- Ga^+一次イオンTOF-SIMSによるSi酸化膜厚評価の可能性
- 含水酸化物表面からのGa^+1次イオン TOF-SIMS フラグメント パターン観察
- Ga^+1次イオン TOF-SIMS における有機化合物の開裂推定 : 多原子分子における結合解離エネルギーに着目して
- 無機化合物のGa^+1次イオンTOF-SIMSフラグメント・パターン推定への同位体存在比導入の試み
- 無機化合物におけるGa^+1次イオンTOF-SIMSフラグメント・パターンの規則性
- 近赤外光とX線の間
- 表面・界面分析と材料
- 微量分析法の限界
- アスコルビン酸還元パラジウム共沈分離-黒鉛炉原子吸光法による高純度鉄及び鋼中の微量セレン, テルル, 金及び銀の定量
- Ga^+一次イオン飛行時間型質量分析法における出現フラグメントパターンの規則性
- 全反射現象を利用した蛍光X線表面分析法
- 斜入射・斜出射-蛍光X線分析法による表面反応の評価
- STM装置を用いたX線励起電流の測定
- 高温炉原子吸光法の灰化段階における化合物と合金相の二次イオン質量分析による検討
- 高温炉原子吸光法における原子蒸気温度の異常な上昇について
- 高温炉原子吸光分析におけるセレンの原子蒸気温度とマトリックスモディファイアとの関係