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アルバック・ファイ | 論文
- 25pB02 線集光型レーザープラズマX線源による光電子顕微鏡の開発(プラズマ応用, (社) プラズマ・核融合学会第21回年会)
- 新しい表面分析法
- XPSにおて発生分布の非対称に与える弾性散乱効果の検討
- 硝酸塩,硫酸塩などからのGa・1次イオンTOF-SIMSフラグメントパターン
- Ga ・ 1次イオン TOF-SIMS による有機化合物の存在確認
- 二,三の合成高分子化合物のTOF-SIMSフラグメントパターンの推定
- 金属塩化物ならびに酸化物からのGa・1次イオンTOF-SIMSフラグメントパターンの推定
- 超高真空温度可変走査プローブ顕微鏡による材料評価技術
- SNOM UND AFM
- Ga^+一次イオンTOF-SIMSによるSi酸化膜厚評価の可能性
- 含水酸化物表面からのGa^+1次イオン TOF-SIMS フラグメント パターン観察
- Ga^+1次イオン TOF-SIMS における有機化合物の開裂推定 : 多原子分子における結合解離エネルギーに着目して
- 無機化合物のGa^+1次イオンTOF-SIMSフラグメント・パターン推定への同位体存在比導入の試み
- 無機化合物におけるGa^+1次イオンTOF-SIMSフラグメント・パターンの規則性
- 近赤外光とX線の間
- 表面・界面分析と材料
- 微量分析法の限界
- アスコルビン酸還元パラジウム共沈分離-黒鉛炉原子吸光法による高純度鉄及び鋼中の微量セレン, テルル, 金及び銀の定量
- 討 41 B, Si のガス化蒸留分離-高感度吸光光度法(IV 金属材料の極微量分析, 第 113 回講演大会討論会講演概要)
- 発光分光用低圧火花放電を噴霧源とする固体金属試料のICP発光分光分析