中野 幸恵 | TDK(株)基礎材料研究所

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• 野村 武史

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• 佐藤 陽

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• 川野 直樹

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• 嵐 友宏

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• 山松 純子

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• 宮内 真理

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• 岩永 大介

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• 日比 貴子

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• 出水 由一

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著作論文

• 2L13 Ni 電極積層セラミックコンデンサの最近の動向
• Ni電極積層セラミックスコンデンサの容量エージングに及ぼす結晶異方性の影響
• Ni内部電極積層セラミックコンデンサのIR加速寿命に及ぼす材料混合度の影響
• Ni電極チップコンデンサの負荷容量経時変化について
• Ni内部電極チップコンデンサの微細構造について
• 大容量Ni電極セラミックコンデンサの微細構造の解析
• 積層セラミックコンデンサの機械的性質に関する研究I
• Ni内部電極積層セラミックコンデンサの絶縁抵抗に及ぼす薄層化の影響
• Ni内部電極積層セラミックコンデンサの高温加速寿命に関する研究
• Ni電極チップコンデンサの高温負荷寿命に及ぼす焼成雰囲気の影響
• Ni電極チップコンデンサの負荷容量経時変化に及ぼす誘電体組成の影響
• Ni内部電極積層セラミックコンデンサの信頼性に及ぼすSiO2の影響
• チタン酸バリウムを主成分とする誘電材料の耐還元性に関する研究
• Ni電極チップコンデンサの高温負荷寿命に及ぼす焼成雰囲気の影響
• Ni電極チップコンデンサの高温負荷寿命に及ぼす熱処理の影響

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