佐藤 陽 | TDK(株)基礎材料研究所

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著作論文

• Ni内部電極積層セラミックコンデンサのIR加速寿命に及ぼす材料混合度の影響
• Ni電極チップコンデンサの負荷容量経時変化について
• Ni電極チップコンデンサの負荷容量経時変化に及ぼす誘電体組成の影響
• Ni内部電極積層セラミックコンデンサの信頼性に及ぼすSiO2の影響
• チタン酸バリウムを主成分とする誘電材料の耐還元性に関する研究
• Ni電極チップコンデンサの高温負荷寿命に及ぼす熱処理の影響

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