嶋村 和樹 | 大阪電気通信大学工学研究科
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概要
大阪電気通信大学工学研究科 | 論文
- 1.3μmおよび1.5μm-InGaAsPレーザダイオードの再結合係数の測定
- C-4-21 注入キャリヤによる量子井戸の変形に関するシミュレーション(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス,一般セッション)
- C-4-22 バンドオフセットの異なる量子井戸レーザのキャリヤ寿命時間の温度特性(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス,一般セッション)
- C-4-23 InGaP量子井戸レーザを用いたフォトリフレクタンス法によるInGaAs量子井戸の評価(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス,一般セッション)
- 量子井戸レーザにおけるバンドオフセットのキャリヤ再結合寿命に与える影響