八木 邦明 | HOYA

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概要

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• 同名の論文著者
• HOYAの論文著者

関連著者

• 酒井 信介

  東京大学大学院工学系研究科

• 酒井 信介

  東京大学

• 長澤 弘幸

  Hoya株式会社先端技術研究所

• 長澤 弘幸

  Hoya Advanced Semiconductor Technologies Co. Ltd.

• 八木 邦明

  HOYA株式会社先端技術研究所

• 泉 聡志

  東京大学大学院 工学系研究科

• 酒井 信介

  東京大学大学院 工学系研究科

• 孫 楡

  東京大学大学院工学系研究科

• 八木 邦明

  HOYA

• 長澤 弘幸

  HOYA

著作論文

• 806 3C-SiC基板の反りへの積層欠陥分布の影響(OS8.電子・原子・マルチシミュレーションに基づく材料特性評価(2),OS・一般セッション講演)

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