清水 浩三 | (株)富士通研究所
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概要
関連著者
著作論文
- 修正コフィン・マンソン則によるSn-Ag-Cuはんだ疲労寿命の予測検討
- 機構部品におけるSnウィスカの発生メカニズムに関する一考察 (MEMS 2006 第16回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集)
- Cuピラー/Sn-Biはんだフリップチップ接合部の信頼性(次世代電子機器を支える三次元積層技術と先端実装の設計・評価技術論文)
- フリップチップはんだ接合部におけるクラックの発生・伝播 (MES'97(第7回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集))