堀川 剛 | (独)産業技術総合研究所

スポンサーリンク

概要

• 同名の論文著者
• (独)産業技術総合研究所の論文著者

関連著者

• 菊池 俊之

  (株)日立製作所デバイス開発センタ

• 松木 武雄

  ルネサスエレクトロニクス(株)

• 伊藤 周

  ルネサスエレクトロニクス(株)

• 劉 紫園

  ルネサスエレクトロニクス(株)

• 小川 有人

  (株)日立国際電気

• 堀川 剛

  (独)産業技術総合研究所

• 菊池 俊之

  (株)日立国際電気

著作論文

• C-11-2 SiONゲート絶縁膜形成後大気曝露の絶縁破壊特性への影響(C-11. シリコン材料・デバイス,一般セッション)

スポンサーリンク