品田 博之 | 日立製作所中央研究所

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• 西山 英利

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• 大嶋 卓

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• 中村 公夫

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• 鈴木 寛

  日立製作所 ストレージテクノロジ研究センタ

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著作論文

• ショットキー電子源から放出される電子ビームの狭エネルギー幅化
• エネルギー幅の狭いショットキー電子源の研究
• 計測技術編 磁気ヘッドの高周波記録磁界をどう観察するか? (特集 超高密度・大容量への模索 拡大する新しい応用展開 '99データストレージ探検隊(1))
• 計測制御系ソフトウェアの生産性向上の一考察
• 電子ビームとCT手法による高周波磁場測定
• ストロボ電子ビームトモグラフィによる微小領域磁場計測

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