計測制御系ソフトウェアの生産性向上の一考察
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概要
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筆者らは,研究開発で用いられる各種実験装置(半導体製造装置,計測装置,評価装置等)の計測制御ソフトウェアを設計・開発している.今回,これまでに設計・開発してきた主な計測制御ソフトウェアについて,その開発工数およぴ開発規模の内訳を調査・分析した.本稿では,調査・分析した計測制御ソフトウェアの開発工数,開発規模の内訳,およぴ開発工数の削減策について考察した内容を述べる.
- 社団法人情報処理学会の論文
- 1993-09-27
著者
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品田 博之
日立製作所中央研究所
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秋山 靖浩
(株)日立製作所中央研究所
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久保 英二
(株)日立製作所中央研究所
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松本 靖
(株)日立製作所中央研究所
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平澤 早苗
(株)日立製作所中央研究所
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品田 博之
(株)日立製作所中央研究所
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