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小林 浩志 | 静岡大学電子工学研究所
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伊ケ崎 泰宏
静大電子研
島岡 五朗
静岡大学電子工学研究所
伊ケ崎 泰宏
静岡大学電子工学研究所
小林 浩志
静岡大学電子工学研究所
著作論文
反応性RFスパッタ法によるZnO膜の構造に及ぼす基板バイアス効果(速報) (第25回真空に関する連合講演会プロシ-ディングス--昭和59年10月29日〜31日)
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