藤浪 真紀 | 新日本製鐵(株)先端技術研究所

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関連著者

• 藤浪 真紀

  新日本製鐵(株)先端技術研究所

• 池松 陽一

  新日本製鐵株式会社先端技術研究所

• 池松 陽一

  新日本製鐵(株)先端技術研究所

• 大橋 渡

  新日本製鐵(株)技術開発本部

• 水谷 敏行

  新日鉄 先端技研

• 中居 克彦

  新日本製鐵(株)先端技術研究所

• 長谷部 政美

  新日本製鐵(株)先端技術研究所

• 水谷 敏行

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• 岩崎 俊夫

  ニッテツ電子

• 池松 陽一

  新日鉄先端技研

• 中居 克彦

  ワッカー Nsce R & D グループ品質評価チーム

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著作論文

• Si結晶内のボイド状欠陥成長機構(バルク成長分科会特集 : シリコン結晶の最近の話題から)
• Si結晶内のGrownin欠陥成長機構
• インターネットと情報の質
• エネルギー可変陽電子消滅法によるSiO_2/Si系半導体材料欠陥解析
• 低速陽電子消滅法による表面層欠陥分析
• 陽電子消滅法による SiO_2 薄膜の欠陥分析

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