原 正一 | 株式会社IHI
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概要
関連著者
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安藤 真
東京工業大学
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枷場 亮祐
東京工業大学大学院電気電子工学専攻
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原 正一
株式会社IHI
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安藤 真
東京工業大学大学院理工学研究科
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伊藤 慧太
東京工業大学
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伊藤 慧太
東京工業大学大学院電気電子工学専攻
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枷場 亮祐
東京工業大学大学院 理工学研究科 電気電子工学専攻
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原 正一
Ihi
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安藤 真
東京工業大学大学院理工学研究科電気電子工学専攻
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吉村 昭彦
IHI
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安藤 真
東京工業大学理工学研究科電気電子工学専攻
著作論文
- 修正法線ベクトル物理光学近似と反復物理光学近似の組み合わせによる多重反射を有する散乱断面積の評価(一般, マイクロ波ミリ波帯におけるアンテナ・伝搬技術,一般)
- 修正法線ベクトル物理光学近似と反復物理光学近似の組み合わせによる多重反射を有する散乱断面積の評価
- 反復法と修正法線ベクトル法を内外で使い分けた物理光学近似による開口付き多重反射散乱体のRCS評価と実験的検証