OKADA Kenji | ULSI Process Technology Development Center, Matsushita Electronics Corporation

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概要

• 同名の論文著者
• ULSI Process Technology Development Center, Matsushita Electronics Corporationの論文著者

関連著者

• 岡田 健治

  半導体MIRAI-ASET

• Okada K

  Yamaguchi Univ. Yamaguchi Jpn

• 岡田 健治

  松下電器産業(株)

• OKADA Kenji

  ULSI Process Technology Development Center, Matsushita Electronics Corporation

著作論文

• An Experimental Evidence to Link the Origins of "A Mode" and "B Mode" Stress Induced Leakage Current

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