丸川 昭二 | 松下寿電子工業

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概要

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• 丸川 昭二

  松下寿電子工業株式会社

• 丸川 昭二

  松下寿電子工業

• 丸川 昭二

  松下寿電子工業(株) 技術開発本部デバイス研究所

• 平塚 隆繁

  松下寿電子工業(株)総合技術開発センター 開発研究所

• 平塚 隆繁

  松下寿電子産業(株)総合技術開発センター 開発研究所

• 小倉 洋一

  松下寿電子工業(株)総合技術開発センター 開発研究所

• 小倉 洋一

  松下寿電子工業(株) 技術開発本部デバイス研究所

• 岡本 好弘

  愛媛大学工学部

• 大沢 寿

  愛媛大学工学部

• 川本 徹

  松下寿電子工業株式会社

• 小田 祥正

  松下寿電子工業(株)総合技術開発センター 開発研究所

• 瓜田 耕一

  松下寿電子工業(株)総合技術開発センター 開発研究所

• 小田 祥正

  松下寿電子工業(株) 技術開発本部デバイス研究所

• 瓜田 耕一

  松下寿電子産業(株)総合技術開発センター 開発研究所

• 川本 徹

  松下寿電子工業

• 井上 剛志

  松下寿電子

• 中嶋 健

  松下電器産業株式会社光ディスク開発センター

• 井上 剛志

  松下寿電子工業(株)松山事業部 Mfd設計室

• 井上 貴生

  松下寿電子工業(株)総合技術開発センター 開発研究所

• 田中 至明

  松下寿電子工業(株)松山事業部 MFD設計室

• 中嶋 健

  松下電器産業(株)光ディスク開発センター

• 小西 信一

  松下電器産業(株)光ディスク開発センター

• 中嶋 健

  松下電器産業

• 中嶋 健

  松下電器産業株式会社 メディア制御システム開発センター

• 越智 浩隆

  松下寿電子工業(株) 技術開発本部デバイス研究所

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著作論文

• NPML方式を用いたヘリカルスキャンアジマス記録のビット誤り率特性改善
• NPML方式によるヘリカルスキャンアジマス記録の性能改善(信号処理および一般)
• NPML方式によるヘリカルスキャンアジマス記録の性能改善
• PRMLを用いた大容量フロッピーディスク信号処理方式およびシステムLSI化について
• PRMLを用いた大容量フロッピーディスク信号処理方式およびシステムLSI化について
• PR(3, 4, 4, 3)MLを用いた高密度光ディスクリードチャネル信号処理方式およびシステムLSI化について
• PR(3, 4, 4, 3)MLを用いた高密度光ディスクリードチャネル信号処理方式およびシステムLSI化について
• SC-4-3 d=2制約の光再生系に対するHalf-rate PRML system
• フィードフォワードノイズキャンセラを用いたクラス1 PRMLシステムの開発

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