HUH Yoonjong | ULSI Laboratory, LG Semicon, Co., Ltd.

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概要

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• 同名の論文著者
• ULSI Laboratory, LG Semicon, Co., Ltd.の論文著者

関連著者

• Yang Dooyoung

  Jusung Engineering Co.

• Yang Dooyoung

  Ulsi Laboratory Lg Semicon Co. Ltd.

• HUH Yoonjong

  ULSI Laboratory, LG Semicon, Co., Ltd.

• KIM Sungwook

  ULSI Laboratory, LG Semicon, Co., Ltd.

• SUNG Yungkwon

  Korea University, Electrical Engineering Dept.

• Huh Yoonjong

  Ulsi Laboratory Lg Semicon Co. Ltd.

• Kim Sungwook

  Ulsi Laboratory Lg Semicon Co. Ltd.

• Sung Yungkwon

  Korea University Electrical Engineering Dept.

著作論文

• Analysis of Mechanisms for Hot-Carrier-Induced VLSI Circuit Degradation

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