真田 克 | NEC エレクトロンデバイス 評価技術開発本部

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概要

• 同名の論文著者
• NEC エレクトロンデバイス 評価技術開発本部の論文著者

関連著者

• 真田 克

  Necエレクトロニクス

• 真田 克

  NEC エレクトロンデバイス 評価技術開発本部

著作論文

• I_DDQを用いたCMOS-LSIのテスティング・故障解析・故障診断
• LSIの故障解析の為の加工技術-その3-
• LSIの故障解析の為の加工技術-その2-
• LSIの故障解析の為の加工技術-その1-

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